一種高精度的圓分度測量原理
發(fā)布日期:2012-08-10 蘭生客服中心 瀏覽:3010
1.引言
在圓分度測量系統(tǒng)中,目前多采用平均讀數(shù)原理來提高測量精度,其基本方法是通過在度盤圓周上均布多個讀數(shù)頭,利用平均讀數(shù)有規(guī)律地消除讀數(shù)中的部分諧波誤差。但這種方法存在一定局限性,一是讀數(shù)中仍然殘留讀數(shù)頭個數(shù)整數(shù)倍的讀數(shù)諧波誤差,使測量精度難以進一步提高(尤其當(dāng)讀數(shù)頭個數(shù)較少時);二是應(yīng)用平均讀數(shù)原理提高圓分度測量系統(tǒng)精度必須建立在多個讀數(shù)頭的特性完全一致的前提下,這就必然增加圓分度測量系統(tǒng)的制造難度和制造成本(尤其當(dāng)讀數(shù)頭個數(shù)較多時)。
本文提出一種可有效提高圓分度測量系統(tǒng)精度的新的測量原理。實際測量證明,應(yīng)用本原理的圓分度測量系統(tǒng)精度高于采用平均讀數(shù)原理的圓分度測量系統(tǒng),同時還具有測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、測量易于實現(xiàn)等優(yōu)點。
2.基本原理
應(yīng)用本測量原理的圓分度測量系統(tǒng)如圖1所示。被測度盤2與標準度盤1同軸安裝,它們可繞共同的回轉(zhuǎn)中心O作同步轉(zhuǎn)動或相對轉(zhuǎn)動,讀數(shù)頭3、4分別對標準度盤進行細分讀數(shù),瞄準顯微鏡5實現(xiàn)對被測度盤的瞄準。測量時,首先相對移動兩度盤,使瞄準顯微鏡瞄準被測度盤的“0”刻線時讀數(shù)4的讀數(shù)為0,并設(shè)定此時主軸回轉(zhuǎn)角度為0。當(dāng)主軸回轉(zhuǎn)角度為θ時,瞄準顯微鏡瞄準被測度盤的θi刻線,讀數(shù)頭4、3的讀數(shù)分別為ai,bi,在圓周上測得N組數(shù)據(jù)(θi,ai,bi)(i=0,1,2,…,N-1)。
1.標準度盤 2.被測度盤
3,4.讀數(shù)頭 5.瞄準顯微鏡
圖
圓分度測量系統(tǒng)存在三種主要誤差:標準度盤的刻劃誤差、主軸晃動誤差和度盤的安裝偏心誤差,它們均會引起讀數(shù)頭的讀數(shù)誤差,所以讀數(shù)頭3、4的讀數(shù)中實際包含了被測度盤的刻劃誤差Δi和上述三種主要誤差引起的讀數(shù)誤差,其中讀數(shù)誤差是一以2π為周期的函數(shù)誤差。若以f(θ)表示此周期函數(shù)誤差,則有
(1)
則讀數(shù)頭4的讀數(shù)為
。2)
若測量過程中按順時針方向轉(zhuǎn)動,由于讀數(shù)頭3的位置與讀數(shù)頭4相差β角,故讀數(shù)頭3的讀數(shù)同樣包含讀數(shù)誤差,只是在相位上超前了β角,則有
。3)
在讀數(shù)信號(ai,bi)中,不能直接分離出被測度盤的刻劃誤差Δi,如果將讀數(shù)頭3的讀數(shù)減去讀數(shù)頭4的讀數(shù),得到綜合信號di為
。4)
經(jīng)過適當(dāng)處理后有
(5)
綜合信號di消除了被測度盤的刻劃誤差Δi,只包含測量系統(tǒng)的讀數(shù)誤差。di也是一周期為2π的諧波函數(shù)信號,故可應(yīng)用信號分析技術(shù)對di進行譜分析。若圓周上的讀數(shù)個數(shù)為N時,利用FT分析可分離出di中的前N/2階諧波誤差,即
。6)
從而可得到前N/2階諧波的幅值和相位(Dk,ψk)。比較式(5)和式(6),可得讀數(shù)頭的讀數(shù)諧波誤差信號的幅值和相位(Ak,φk)與(Dk,ψk)的關(guān)系為
。7)
則被測度盤的刻劃誤差為
。8)
式(8)即為被測度盤的測量結(jié)果。為了有效地分離出讀數(shù)誤差中的前N/2階諧波誤差,必須合理確定讀數(shù)頭3、4之間的夾角β。β的確定原則是盡可能避免kβ/2=jπ(k=1,2,…,N/2,j為整數(shù))。見式(5),當(dāng)kβ/2j時,sin(kβ/2)=0,信號di中將不包含第k階諧波誤差,對di進行FT分析時就不能分離出第k階諧波誤差信號的幅值和相位(Ak,φk),則在式(8)中將包含讀數(shù)誤差的第k階諧波誤差的影響,使測量結(jié)果的精度下降。例如,當(dāng)N=24時,可取β=56°或β=62°,但切不可取β=60°,因為當(dāng)k=6時,kβ/2=180°,di中將不含第6階諧波信號,在式(8)中只能消除1~5階和7~12階諧波誤差,殘留了第6階諧波誤差,從而影響測量結(jié)果的精度。π
3.?dāng)?shù)據(jù)處理流程和測量結(jié)果比對
依據(jù)上述原理,數(shù)據(jù)處理流程如下
(1)在圓周上獲得N組測量數(shù)據(jù)(θi,ai,bi)(i=0,1,2,…,N-1);
。2)求出綜合信號di=bi-ai(i=0,1,2,…,N-1);
。3)調(diào)用FT譜分析軟件,獲得綜合信號di中前N/2階諧波的幅值和相位(Dk,ψk)(k=1,2,…,N/2);
。4)按式(7)分離出讀數(shù)諧波誤差的幅值和相位(Ak,φk)(k=1,2,…,N/2);
(5)按式(8)修正讀數(shù)頭4的讀數(shù)中的前N/2階諧波誤差,得到被測度盤的刻劃誤差值Δi(i=0,1,2,…,N-1);
(6)被測度盤的零起刻線誤差為i=Δi-Δ0(i=0,1,2,…,N-1),最大間距誤差為f=max(Δi)-min(Δi)(i=0,1,2,…,N-1)。
為驗證本文提出的圓分度測量原理分離和修正測量系統(tǒng)讀數(shù)諧波誤差的有效性,筆者分別進行了采用本測量原理和采用平均讀數(shù)原理的模擬測量計算,并對二者進行比較。設(shè)對一已知零起刻線誤差真值的標準度盤進行測量,給定測量系統(tǒng)讀數(shù)誤差的各階諧波幅值和相位(Ak,φk)(k=0,1,2,…,17),對度盤圓周上均布的N=24個測點進行測量。采用本測量原理的兩讀數(shù)頭3、4之間的夾角β=56°。應(yīng)用平均讀數(shù)原理的模擬測量采用圓周上均布5個讀數(shù)頭的讀數(shù)方式。讀數(shù)頭4、3的讀數(shù)值(ai,bi)、被測標準度盤零起刻線誤差真值io以及采用兩種原理的誤差計算結(jié)果列于下表(因篇幅所限,未列出平均讀數(shù)原理5個讀數(shù)頭的讀數(shù)值)。
由表可知,與采用平均讀數(shù)原理的測量結(jié)果pi相比,采用本測量原理得出的測量結(jié)果i更接近于被測度盤零起刻線誤差真值oi,其最大間距誤差結(jié)果也更接近于被測度盤真值。由此可見,本測量原理能有效分離和修正圓分度測量系統(tǒng)的讀數(shù)諧波誤差,其測量精度高于均布5個讀數(shù)頭的平均讀數(shù)原理測量方法。理論上,本測量原理能消除全部前N/2=12階諧波讀數(shù)誤差,而平均讀數(shù)原理只能消除非讀數(shù)頭個數(shù)整數(shù)倍的各階諧波讀數(shù)誤差(1、2、3、4、6、7、8、9、11、12階),而殘留了讀數(shù)頭個數(shù)整數(shù)倍的各階諧波讀數(shù)誤差(5、10階)。由于隨著諧波階數(shù)的增高(k>15),讀數(shù)諧波誤差的幅值將減小到10-2秒數(shù)量級,因此可認為本測量原理基本上可以完全消除讀數(shù)諧波誤差。
表 原始數(shù)據(jù)和計算結(jié)果 (單位:秒)
序號 | 度盤零起刻線 誤差真值oi | 原始數(shù)據(jù) | 度盤零起刻線誤差計算結(jié)果 | ||
讀數(shù)頭4讀數(shù)值ai | 讀數(shù)頭3讀數(shù)值bi | 本測量原理i | 平均讀數(shù)原理pi | ||
0 | 0.00 | 0.00 | -0.90 | 0.00 | 0.00 |
1 | 0.50 | 2.96 | -0.92 | -0.11 | 0.94 |
2 | 1.20 | 2.89 | 2.94 | 1.03 | 0.53 |
3 | (-0.70) | -0.96 | -0.45 | (-1.19) | (-1.93) |
4 | 1.00 | -0.48 | 1.09 | 0.84 | 0.95 |
5 | 2.80 | 2.20 | 3.65 | 2.20 | 2.85 |
6 | (3.60) | 5.58 | 5.08 | (3.62) | (4.08) |
7 | 2.60 | 2.11 | 0.93 | 1.79 | 1.48 |
8 | 3.20 | 3.90 | -0.95 | 3.35 | 2.32 |
9 | 1.80 | 2.69 | -1.43 | 1.03 | 1.76 |
10 | 0.90 | 1.92 | 2.55 | 0.84 | 1.03 |
11 | 2.20 | -0.16 | 0.41 | 1.65 | 2.61 |
12 | 1.60 | -3.19 | 2.48 | 1.45 | 0.15 |
13 | 1.40 | -0.02 | 2.77 | 0.87 | 0.87 |
14 | 2.20 | 3.28 | 2.32 | 1.96 | 2.16 |
15 | 0.80 | -0.97 | 3.63 | 0.48 | 1.03 |
16 | 0.60 | 2.22 | 3.43 | 0.16 | 0.78 |
17 | 1.50 | 2.30 | 2.42 | 1.21 | -0.08 |
18 | -0.20 | -0.16 | -0.72 | -0.53 | -0.47 |
19 | 0.40 | 3.53 | 0.90 | 0.01 | 0.37 |
20 | -0.70 | 1.89 | -1.27 | -1.00 | -0.36 |
21 | -0.50 | -0.44 | 0.44 | -0.95 | -0.70 |
22 | 0.20 | 0.21 | 2.65 | 0.08 | -1.29 |
23 | 0.80 | 0.77 | 0.62 | 0.11 | 0.68 |
-
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1數(shù)控系統(tǒng)對位置檢測裝置的要求 位置檢測裝置是指能夠把機械位移量轉(zhuǎn)換成一定形式的電信號的裝置,是數(shù)控機床的重要組成部分。在閉環(huán)系統(tǒng)中,它的主要作用是檢測位移量,并發(fā)出反饋信號和數(shù)控裝置發(fā)出的指令信號相比較,若有偏差,經(jīng)放大后控制執(zhí)行部件,
2015-05-13 -
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數(shù)控機床作為一種高效、高精度的制造裝備在制造企業(yè)中得到了廣泛應(yīng)用,而且正朝著高精度、高效率、開放化、智能化、復(fù)合化的方向發(fā)展。復(fù)合化的目標是盡可能地在一臺機床上利用一次裝卡完成全部或大部分的加工任務(wù),以保證工件位置精度,提高生產(chǎn)效率 。加之
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2012-08-10